1. DFT 入门篇 |
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DFT -- design for test 三要素:辅助性设计, physical defects 结构性测试向量 是一种辅助性设计,利用这种辅助性设计 对根据 physical defects 建立的 fault model 进行求解产生的结构性测试向量, 这些结构性测试向量用于检测制造出来芯片的能否正常工作。
scan chain 包含两个步骤: scan replacement scan stitching scan chain (synthsis)作用 :把 difficult to test sequential circuit 转换为 easy to test combinationl circuit 。
上图所示,首先是 替换 然后是连接 组成一条 scan 链
完整的 scan chain过程: 1。 对于时序电路 sequential 部分,选择scan mode ,shift in pattern , 然后shift out 2. 对于组合电路combinational 部分,首先选择scan mode , shift in pattern ,直接输入 pi 的值,选择function mode ,经过一段时间以后, PPO PO 都稳定了,先比较PO 的值, 再来一个时钟周期,capture ppo 的值,选择scan mode ,shift out PPO 的值 然后下一条 pattern
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