2020年1月新增图表：统计过程控制图、金字塔图、组织架构图等 |
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因为一月份桌面版暂停更新，本文将包含从去年 12 月至 1 月份新发布的 11 种图表，另有更新版本的图表 15 种。所有更新图表中，Zebra BI 和 Small Multiple Line Chart 两种图表的变化较大，值得关注。所有图表介绍已更新至图表导航 okviz.cn。 统计过程控制（SPC）图SPC 统计过程控制主要是指应用统计分析技术对生产过程进行实时监控，科学的区分出生产过程中产品质量的随机波动与异常波动，从而对生产过程的异常趋势提出预警，以便生产管理人员及时采取措施，消除异常，恢复过程的稳定，从而达到提高和控制质量的目的。 PQ System 公司开发了一套包含 8 种过程控制图的 PI VIZ Pack，提供了一种基于 Power BI 的，以可视化形式评估过程行为和性能的简单方法。图表包含免费和付费两种版本，免费版可以从商店下载，付费版本的打包价格是 240 美金/年。 官网产品介绍 PI VIZ Pack 一共包含八种图表 Histogram — 直方图直方图是表示数据频率分布的条形图。每个柱子的高度对应于类或单元格中的统计项数，柱子的宽度代表一个测量间隔。直方图通常用于统计数据的可视化。它们被称为描述性统计。该图表的不同之处在于还包括附加的过程索引:Cpk、Ppk 和 DPM。 直方图 By PQ System Individuals Control Chart — 单值控制图统计过程控制图（SPC）之 单值控制图，多用于对每一个产品都进行检验，采用自动化检查和测量的场合，它创建系统随时间变化的图表，用来确定流程是否稳定和可预测，多用于取样费时、检验昂贵以及样品均匀，多抽样也无太大意义的场合。 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当需要保留数值的时间顺序时。 在一个子组中收集数据时(一次一个值)单值控制图 By PQ System Individuals and moving range control chart — IMR 控制图统计过程控制图（SPC）- IMR 控制图，显示变量数据在一段时间内的单个观测值（I 控制图）和移动极差（MR 控制图）。使用此组合控制图可以在难以或不可能将测量值分成子组时监控过程中心和变异。这种情况通常在测量费用高昂、生产量偏低或产品生产周期很长时发生。当数据作为单个观测值收集时，将无法计算每个子组的标准差。移动极差作为一种替代方式，通过计算两个或多个连续观测值的极差来计算过程变异。 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当需要保留数值的时间顺序时。 在一个子组中收集数据时(一次一个值)IMR 控制图 By PQ System Multi-group individuals chart — 多群组单体图统计过程控制图（SPC）- 多群组单体图，SPC 图的一种变体，与普通折线图相比它可以根据标识符将数据划分为多个子流程，标识符可以是班次、行号或用于产生数据的位置之类的内容。完成分段后，可以更容易地查看某些分段输出的结果是否在变化量(界限之间的距离)、中心趋势(中心线)或过程不稳定性(连续上升/下降或下降到平均值线一侧的游程)方面有所不同。 使用建议 当流程数据中包含对位置、班次、物料类型等属性进行分段的数据时 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当需要保留数值的时间顺序时。 在一个子组中收集数据时(一次一个值)多群组单体图 By PQ System X-bar control chart — 均值极差控制图统计过程控制图（SPC）- 均值极差控制图，用于分析过程稳定性和子组数据的离散性，均值控制图主要用于观察分布的均值变化；极差控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而均值极差控制图则将两者联合运用，以观察均值及分布的变化。此图表类型用于分组数据，其中每个子组由两个或多个值组成，图中绘制的点是子组数据的平均值(X-bar)。 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当需要保留数值的时间顺序时。 以两个或多个子组搜集数据时均值极差控制图 By PQ System X-bar and range control chart — 均值极差控制图统计过程控制图（SPC）- 均值极差控制图，用于分析过程稳定性和子组数据的离散性，均值控制图主要用于观察分布的均值变化；极差控制图用于观察分布的分散情况或变异度的变化，而均值极差控制图则将两者联合运用，以观察均值及分布的变化。此图表类型用于分组数据，其中每个子组由两个或多个值组成，图中绘制的点是子组数据的平均值(X-bar)。 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当需要保留数值的时间顺序时。 以两个或多个子组搜集数据时均值极差控制图 By PQ System P-chart — 不良率控制图统计过程控制图（SPC）-不良率控制图（P 图），用于控制对象为不合格品率或合格品率等计数值质量指标的场合，使用此图应选择重要的检查项目作为判断不合格品的依据。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、各种差错率等 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当正在检查的数据表示某种类型的计数时。 以两个或多个子组搜集数据时。不良率控制图 By PQ System U-chart — 单位缺陷数控制图统计过程控制图（SPC）- 单位缺陷数控制图（U 图），当样本大小变化时，不宜用缺陷数控制图（C 图），需换算为平均每单位的缺陷数后再使用 U 控制图。 使用建议 查看流程是否稳定和可预测时。 查看计划内的更改如何影响生成流程时。 当正在检查的数据表示某种类型的计数时。 以两个或多个子组搜集数据时。单位缺陷数控制图 By PQ System Funnel and pyramid chart by xViz — 漏斗图、金字塔图漏斗图、金字塔图二合一图表，支持多种自定义功能，比如 3D 效果、条件格式等 漏斗图、金字塔图 OEE Dashboard by 3AG Systems — OEE 仪表板 OEE 仪表板 By 3AG，OEE 设备综合效率仪表板用来表现实际的生产能力相对于理论产能的比率,它是一个独立的测量工具。 由可用率,表现性以及质量指数三个关键要素组成: OEE=可用率*表现指数*质量指数 其中: 可用率=操作时间/计划工作时间 它是用来评价停工所带来的损失,包括引起计划生产发生停工的任何事件,例如设备故障,原材料短缺以及生产方法的改变等。 OEE 设备综合效率仪表板 Organization chart by MAQ Software — 组织架构图组织结构图 By MAQ Software，功能简单易用，样式比较美观，支持可视化父子层级结构的数据源，无需二次处理。 组织架构图
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