X 射线衍射 (XRD) 使您能够测量和验证 MOF 的晶体结构，而我们的 Empyrean 和 Aeris X 射线衍射仪可以提供最高质量的粉末衍射数据。 Aeris 可以在五分钟内完成扫描，这两种仪器都能提供出色的分辨率和灵敏度以获得最佳细节。 此外，我们 MicroCal PEAQ-ITC 的超灵敏 微热量测量法 可以直接测量您的结构的结合亲和力、化学计量学、热焓和熵。

对于颗粒尺寸测定，我们的 Mastersizer 激光衍射颗粒测定仪是一种解决方案 - 它的多功能性意味着您可以创建最佳设置以获得一致的结果。 当涉及到颗粒形态时，Morphologi 4 可在短短 30 分钟内生成多达 500,000 个颗粒的全套尺寸和形状结果。 而且，利用 Morphologi 4-ID，您可以返回到任何单个颗粒进行更详细的分析，例如拉曼光谱。

当涉及到分析溶液中的 MOF 纳米颗粒时，动态光散射 (DLS) 和电泳光散射 (ELS) 分别是测量颗粒大小和分析颗粒漂移（以获得 Zeta 电位）的理想方法。 我们的 Zetasizer Advance 系列支持这两种技术，而 Nanosight Pro 通过实时颗粒移动成像（包括颗粒尺寸和浓度的跟踪分析）为这些测量提供了有益的补充。

此外，我们的 X 射线荧光 (XRF) 仪器（如 Epsilon 和 Zetium）可以分析 MOF 样品或其载体溶液的化学成分，从而帮助您避免杂质和跟踪物种的吸收或排出。 或者，使用我们的样品制备设备，您还可以为 ICP 化学分析提供解决方案。