CPS纳米粒度分析仪

CPS纳米粒度分析仪是一台稳定高速、以及高分辨的纳米粒度分析仪。该仪器适合测量 0.005 um 到 75um 范围的粒度。仪器使用高速离心圆盘将颗粒在液体介质里分离开。颗粒在的沉降稳定过程是由于液体介质中颗粒的密度梯度形成的。有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案。同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。

CPS纳米粒度分析仪，有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案

这种原理有以下几点优势：

分辨率高：

同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。对于只有 1%的颗粒差异分布的时候，该方法测定的结果仍然有好的分离效果。您能看到的是颗粒分布本身，而不是分布颗粒的混合图。

灵敏度高：

低至 10-8 g 的样品就可以满足日常分析需要。

重复性高：

样品结果在95%的典型置信度下，连续重复分析峰的重复性小 于+/-1% 或更好。

快速、高精度数模(A/D)转换:

可用信号分辨率（即软件操作的对象）决定于数模转换的过程。CPS系统使用的数模  转换  可以实现在每秒31次取样时保持20位以上的精  度，几百万分之一的误差。

CPS高精度纳米粒度仪的技术优势

CPS纳米粒度分析仪​分辨率很高，它有效地结合了高速离心沉降（最高24000转/分）和激光法的优点，使得整个仪器能够达到极高的分辨率，优良的灵敏度和重复性.