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2024-07-14 02:45| 来源: 网络整理| 查看: 265

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 Extrinsic semiconductor single crystals--measurement of Hall mobility and Hall coefficient 国家标准推荐性废止

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。

主要起草单位有色金属研究总院。

目录标准状态发布于 1984-04-12 实施于 1985-03-01 废止于 2006-12-31 当前标准

GB/T 4326-1984 废止

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法被以下标准替代

GB/T 4326-2006 （全部代替）

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法基础信息标准号 GB/T 4326-1984 发布日期 1984-04-12 实施日期 1985-03-01 废止日期 2006-12-31 标准类别方法中国标准分类号 H21 归口单位中国有色金属工业协会执行单位中国有色金属工业协会主管部门中国有色金属工业协会起草单位有色金属研究总院相近标准(计划) 20233951-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法 20201536-T-339 半导体器件第14-2 部分：半导体传感器霍尔元件 YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试表面光电压法

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