功函数是将电子从固体转移到真空所需的最小能量，是任何材料表面的关键性质。它在新能源材料和器件的工程中发挥着至关重要的作用。然而，由于其表面敏感性，准确测量功函数（WF）仍然是一个挑战。WF的值取决于表面清洁度、重建、吸附质以及材料的整体电子结构。开尔文探针（KP）和光电发射光谱（PES）是两种广泛使用的功函数测量技术。然而，这两种技术都有其局限性。对于KP法，参比电极表面功函数因表面污染而发生的电位变化会影响其精度。在PES中，功函数在理论上可以很容易地通过二次电子尾的低能截止和价带最大值之间的差来确定。对于光电子能谱，Tao和Butcher等人[1-2]研究表明，气体环境会对某些材料的表面重建产生深远影响。为此，在使用材料的各种条件下准确测量材料功函数的能力是非常有利的。提供此功能的技术优点是在环境压力下的气相核心级X射线光电子能谱，用作探针的相同气体分子的核心级光谱是在两种不同材料表面附近进行的。检测到的气体分子核心能级结合能（BE）的变化是衡量两种材料功函数差异的指标。Siegbahn[3]使用APXPS设备，检测Ar 2p气相核心能级随功函数变化的能量偏移。通过对众所周知的功函数参考样品（如Au（111）、Pt（11）和石墨）进行测量，验证了表面功函数与Ar气相核心能级BE之间的线性关系。

[1] Tao F, Grass M E, Zhang Y, et al. Reaction-driven restructuring of Rh-Pd and Pt-Pd core-shell nanoparticles[J]. Science, 2008, 322(5903): 932-934. (27) Tao, F.; Dag, S.; Wang, L. W.; Liu, Z.; Butcher, D. R.; Bluhm,

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