半导体测试行业相关术语

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半导体测试行业相关术语

2024-05-03 23:15| 来源: 网络整理| 查看: 265

11. PCB = Printed Circuit Board, (印制电路板),又称印刷线路板,是重要的电子部件,是电子元器件的支撑体,是电子元器件电气连接的载体。由于它是采用电子印刷术制作的,故被称为“印刷”电路板。

12. PC = Probe Card: 探针卡是晶圆测试中被测芯片和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。探针卡的使用原理是将探针卡上的探针与芯片上的焊垫(Pad)或凸块(bump)直接接触,导出芯片讯号,再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化测量晶圆。它对前期测试的开发及后期量产测试的良率报证都非常重要,是晶圆制造过程中对制造成本影响相当大的重要制程。

13. Wafer = 晶圆。也被称为基片,由纯硅(Si)构成,一般分为6英寸、8英寸、12英寸规格不等,晶片就是基于这个wafer上生产出来的。晶圆是指硅半导体集成电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能的集成电路产品。

14. Die - Silicon die or bare-die,晶粒 - 硅晶片或裸片是指尚未封装的全功能芯片,一个晶圆由许多晶粒组成,这些晶粒在在切割过程中被分离出来。

15. Chip – 芯片,集成电路(IC)基本上是一种电子电路,它将许多不同的设备集成到一块硅片上。它也经常被称为微芯片或简单的芯片。一般来说,芯片这个词指的是一块很小很薄的材料,有时是从一块较大的材料上掰下来的。当芯片还没有封装时,我们称它为裸片。所以,大多数集成电路都是在很薄(厚度小于1毫米)的硅片上以裸片的形式生产的。



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