第四版已有中文译本《实用可靠性工程》，看见英文头疼的同学们不妨从中文版入手。

《工程设计中的可靠性验证、试验与分析》

02

书

英文书名：《Reliability Verification, Testing, and Analysis in Engineering Design》

中文译名：《工程设计中的可靠性验证、试验与分析》

作者：Gary S.Wasserman

本书由Gary S.Wasserman撰写，中文译本为《工程设计中的可靠性验证、试验与分析》。作者有在美国汽车名城底特律长期工作和生活的经历，通过与汽车制造商和一级供应商之间的交流掌握了大量的实际经验。作者曾看到工程设计人员在设计试验验证方案时由于缺乏必要的背景知识而对如何确定试验项目茫然不知所措。因此，作者撰写了这本书，为可靠性工程师在工程设计中进行可靠性设计试验、评估验证时提供参考。

书中比较独特的内容包括使用Microsoft Excel进行寿命数据分析的介绍和实例，给出了改进型零故障试验的公式，讨论了寿命-应力关系模型的加速寿命技术运用等，是一本可靠性试验的实用工具书。

《可靠性工程基础》

03

书

《可靠性工程基础》

作者：Michael G. Pecht

本书主要作者Michael G. Pecht，是美国马里兰大学教授，某工程中心（CALCE）主任，IEEE Fellow, ASME Fellow等，是国际失效物理研究的倡导者、世界著名可靠性专家。

本书面向21世纪的产品可靠性需求，从“可靠性工程是产品寿命周期中一系列技术与管理活动的集成”这一视角，整合了国外新的可靠性技术与管理方法。书中回顾了可靠性工程的发展史，展望了21世纪的产品可靠性需求，详细介绍了确定产品可靠性要求需考虑的原则和因素，产品设计、开发、生产和装配中的可靠性工程活动及其所用的技术方法，产品寿命周期中的可靠性试验设计及计划制定，以及可靠性工作程序和过程的设计与管理。书中内容丰富，值得仔细阅读与研究。

更多书籍推荐：

除了以上主要推荐的书籍，其他举例如下：

赛宝可靠性系列

1. 可靠性概论

2. 可靠性管理

3. 可靠性物理

4. 可靠性设计

5. 可靠性试验

6. 电子元器件失效分析技术

7. 半导体集成电路的可靠性及评价方法

8. LED照明的质量可靠性研究分析

9. 电子组装工艺可靠性技术及案例研究

系统的可靠性工程及设计中

的可靠性

1. MIL-HDBK-338B 可靠性设计手册

2. GEIA-STD-0009 Reliability Program Standard for Systems Design, Development, and Manufacturing

3. IEEE 1624 Organizational Reliability Capability

4. T. M. Kubiak and Donald W. Benbow (ASQ). The Certified Reliability Engineer Handbook

5. 李良巧, 可靠性工程师手册

元器件的可靠性

1. Charles A. Harper 主编，贾松良、蔡坚等译. 电子封装与互连手册

2. 孙青. 电子元器件可靠性工程

3. 吉田弘之. 电子元器件的故障原因及其对策

4. Bellcore GR-357-CORE电信设备用元器件的一般可靠性保障要求

5. J. W. McPherson. Reliability Physics and Engineering – Time To Failure Modeling. Springer, 2010.（有中译本）

6. B. Jayant Baliga. Fundamentals of Power Semiconductor Devices（有中译本）

7. Josef Lutz, Heinrich Schlangenotto, Uwe Scheuermann, Rik De Doncker. Semiconductor Power Devices Physics-Characteristics-Reliability （有中译本）

环境应力试验

1. 王树荣, 季凡渝. 环境试验技术

2. 祝耀昌. 产品环境工程概论

3. MIL-STD-810 Environmental Considerations and Laboratory Tests

4. GJB 150A 军用装备 实验室环境试验方法

IEC 60068-1、-2 (GB-T 2423、2424) 电工电子产品环境试验 试验方法及导则

可靠性试验、加速试验

1. 姜同敏. 可靠性与寿命试验

IEC 62506-2013 Methods for Product Accelerated Testing

元器件试验方法（破坏性物理分析、耐久性试验、应力试验等）

1. MIL-STD-1580（GJB 4027）

2. JESD 22系列标准

3. IEC 60747 半导体器件 系列标准（部分有对应国标）

4. IEC 60749 半导体器件试验方法 系列标准（部分有对应国标）

5. AEC Q100、Q200系列标准

更多书籍，参见汽车智库：www.autoekb.com;

可靠性培训，参见阅读原文 链接。返回搜狐，查看更多