STM32 ADC转换异常原因探索 |
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背景
STM32L496ADC1,采集2路(2个通道)信号,多通道扫描模式连续采集,采样频率1M,定时器触发,DMA搬运数据。ADC2,采集3路(3个通道)信号,多通道扫描模式连续采集,采样频率4K,定时器触发,DMA搬运数据。
出现的异常,某些设备在连续不断采集过程中,AD采集的结果一直保持为一个固定的值,不随外部输入电压的改变而改变。 设备做静电冲击测试时,也出现这种情况。 原因分析(怀疑点)根据DATASHEET的介绍和线上产品运行的情况,分析总结出如下可疑点。 参考电压波动参考地受灌入电流冲击ADC设置的采样时间太少信号输入处阻抗太大电源电压不稳定 1. 参考电压波动参考电压波动,这是第一个被怀疑的点,为了确定参考电压的波动,对AD转换的结果有较大影响,做了如下实验: 在程序运行过程中,将Vref+ 短暂瞬时的短接到地,这时可以观察到和线上产品一样的现象,采集到了大量失真数据,大量数据的值相同,AD结果严重错误。同时,这种错误是可以在Vref+ 恢复后自动消失的。 实验证明,要使得ADC转换结果正确,必须保证Vref+长期稳定。 2. 参考地受灌入电流冲击
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