基于中深度全基因组二代测序检测杂合性缺失的方法

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基于中深度全基因组二代测序检测杂合性缺失的方法

2023-04-06 22:49| 来源: 网络整理| 查看: 265

申请/专利权人:广州嘉检医学检测有限公司;嘉检(广州)生物工程技术有限公司

申请日:2023-02-27

公开(公告)日:2023-03-28

公开(公告)号:CN115862733A

主分类号:G16B20/20

分类号:G16B20/20;G16B30/10;G16B40/20

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2023.03.28#公开

摘要:本发明公开了基于中深度全基因组二代测序检测杂合性缺失的方法,所述方法包含以下步骤:对样本进行DNA提取与建库,并将过滤后的下机数据与人类参考基因组进行比对,将比对结果文件进行排序;对比对结果文件进行变异识别,得到变异结果文件;对变异结果文件进行测序深度过滤,然后进行滑动切割,最终得到多个bin,根据变异等位基因频率的大小进行分类并统计其个数;分别计算每个bin每个类型变异的Z_score,求其均值并分染色体绘制多类位点个数和对应Z_score的折线图。本发明可以较低的成本、准确地判别杂合性缺失,且通过Z_score的折线图可以直观地显示出AOH阴性和阳性样本的区别。

主权项:1.基于中深度全基因组二代测序检测杂合性缺失的方法,其特征在于,包含以下步骤:S1、对样本进行DNA提取与建库,并将过滤后的下机数据与人类参考基因组进行比对,将比对结果文件进行排序;S2、对比对结果文件进行变异识别,得到变异结果文件;S3、对变异结果文件进行测序深度过滤,然后进行滑动切割,最终得到多个bin,根据变异等位基因频率的大小进行分类并统计其个数;S4、分别计算每个bin每个类型变异的Z_score,求其均值并分染色体绘制多类位点个数和对应Z_score的折线图。

全文数据:

权利要求:

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