MCU提高ADC采样精度的几种方案

您所在的位置:网站首页 音源采样率和采样精度 MCU提高ADC采样精度的几种方案

MCU提高ADC采样精度的几种方案

2024-07-13 08:26| 来源: 网络整理| 查看: 265

1、开启ADC以后,延时一段时间,再采样,如果是连续采样的话,开始的几百个数据建议丢弃。原因就是开启ADC的瞬间,电压肯定是在波动状态的,这个时候采样肯定有问题。

2、过采样。如果采样频率高于信号最高频率的两倍,这种采样被称为过采样。(奈奎斯特采样定理-香农采样定理) 即尽可能快地采样数据,比如之前是1s采1次,现在做成100ms采1次,并把缓存10次的数据求平均。

3、使用基准电压,可以用外部基准电压或者内部基准电压。

4、提高电源稳定性,模拟电源VDDA单独供电。

5、硬件上在模拟输入端加滤波电路。

6、选择合适的ADC外设的时钟频率。

20210801补充: 常规的程序运行时都是在初始阶段进行各外设包括ADC的初始化操作,而其中的自校准操作要注意使用的基准电压已经稳定,且内部电压都已稳定。即可能需要在上电后进行一定延时再进行ADC自校准操作。

参考: https://www.cnblogs.com/wy9264/p/12994974.html



【本文地址】


今日新闻


推荐新闻


CopyRight 2018-2019 办公设备维修网 版权所有 豫ICP备15022753号-3