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600

作者：

贾建革，段新安，李咏雪

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摘要：

随着深亚微米级材料的应用,VLSI器件进一步推动了半导体技术 领域的发展,传统的测试和验证方法已不能满足需要且成本较高,基于Core的系统级芯片要求芯片设计者必须改变以往的开发方式,以便缩短上市时间,扩大销 售额.一种嵌入式的测试方法应运而生,它能使芯片设计者在较短的时间内生产出高质量的产品,提高利润,增加市场知名度,且大大减少了系统验证,检测和调试 的时间.本文着重讨论嵌入测试技术,分析该技术对产品的上市时间,产品质量以及生产成本所带来的影响.

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关键词：

嵌入测试；测试源；接收器；差错；大规模芯片

DOI：

10.3969/j.issn.1674-5124.2005.06.029

被引量：

93

年份：

2005