从 EDS 高通量、高信噪比元素映射到超高分辨率 EELS 探测氧化态和表面声子，Spectra 300 (S)TEM 提供灵活的能谱配置，以适应最广泛的分析要求。

Spectra 300 (S)TEM 可根据客户选择配置三种不同能量分辨率的电子源（X-FEG Mono、X-FEG UltiMono 和 X-CFEG），两种不同几何构造的 EDS 探头（Super-X 和 Dual-X），以及一系列 Gatan Continuum 能谱仪和能量过滤器，使您可以自由配置系统以满足您的研究需求。

Thermo Scientific EDS 探头系列产品提供多种探头形状选择，以满足您的实验要求并优化 EDS 结果。两种配置都具有对称设计，可生成定量数据。 请注意，在两种探头配置下，样品杆对信号遮挡与倾转角的关系函数在内置的 Thermo Scientific Velox 软件功能中得到补偿。

Spectra 300 (S)TEM 可配置 Super-X（获得更干净的能谱和定量）或配置 Dual-X（获得最大立体角和高通量 STEM EDS 映射）。

Super-X 探头系统提供 0.7 Sr 的高准直立体角和大于 4000 的 Fiori 数。Super-X 专为 STEM EDS 实验而设计，在这里EI实验中，能谱清洁度和量化的要求至关重要。

Dual-X 探头系统提供 1.76 Sr 的立体角和大于 2000 的 Fiori 数。Dual-X 专为高通量 STEM EDS 实验而设计，例如 EDS 三维成像或信号产量低且快速映射至关重要时。

在下面的例子中，使用 Dual-X 探头检查 DyScO3 钙钛矿系统。X-CFEG 的超高亮度 (>>1.0 x 108 A/m2/Sr/V*) 和 S-CORR 探针校正器的高分辨率用于将探针作用于样品，电流为 150 pA，尺寸