原标题：芯片ATE程序开发、芯片FT测试、RA测试、ESD测试、FA测试

芯片FT测试、ATE程序开发

芯片FT测试（Final Test 简称FT）是指芯片在封装完成后以及在芯片成品完成可靠性验证后对芯片进行测功能验证、电参数测试。主要的测试依据是集成电路规范、芯片规格书、用户手册。目前芯片FT测试主要用到ATE测试系统，包括软件和测试设备、测试硬件。ATE是Automatic Test Equipment的缩写， 于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机， 用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之*后流程， 以确保集成电路生产制造之品质。

ATE测试主要测试项目如下：

ATE程序开发：

GRGT测试技术开发团队：

广州广电计量检测股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息产业部电子602计量站，经过50余年的发展，现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构，专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务，在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测、元器件筛选与失效分析、芯片测试等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平。返回搜狐，查看更多

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