就像两手拍打或橡胶带振动时产生声音一样，红外能量通过这些原子和分子的振动，通过它们相互之间的碰撞释放出来。这些释放出的能量就是红外测温仪所测量的红外能量。温度越高，原子和分子的振动越剧烈，释放的红外能量越多。这里关于温度和释放的红外能两者之间密切的线性关系，就是红外测温仪能够准确测温的工作原理。

黑体能量分布和波长、温度之间的关系

通常一个物体释放出的红外能总量与其温度呈正比关系。一个相对小的温度变化通常能够带来一个相对较大的红外能量的变化。因此，红外测温仪具有较高的精度。但现实中存在很多影响红外测温仪准确工作的因素。因此，了解红外测温仪的本质和原理是至关重要的。

如前所述，红外能量是由原子和分子的振动产生的。当物体温度较低的时候，这些振动相对较慢，释放的红外能也相对较小。当物体温度升高时，振动的频率增加并且释放出的红外能总量也随之增加。振动的频率与产生的能量的波长有关系。频率越高，波长越短。通常对于大多数材料来说，红外能量发出的波的频率和波长不是固定的，而是呈曲线分布，在一个范围内波动。在任何特定波长上，发出的红外能都随温度的增加而增加（见下图）。但是，低温物体发射出的峰值波长较长，而高温物体发射出的峰值波长较短。

在分析光谱上不同温度产生的红外能分布时，需要注意两点。第一点是要注意在短波长下任何特定的温度变化所带来的红外能量的变化比在长波长下大得多。这就是说一个短波长红外测温仪更能准确地提供温度变化的趋势，并且更能耐受诸如发射率变化、光学结垢和瞄准误差等一系列干扰。第二点是要注意当温度变得越来越低时发射出的峰值能量的波长将增加。这就是说在测量温度很低的目标时，有必要使用一个波长相对较长的传感器。在下文中将仔细地给予说明。

发射率的定义(黑体、灰体、非灰体、可选择型发射体)

物体的温度与发射出的红外能的关系，粗略看来似乎用一句话就可以描述清楚：高温物体发射出较多的红外能，而低温物体发射出较少的红外能。理论上，通过简单地测定被测目标发射出的红外能，就可以知道它的温度。然而实际上并不是那么简单的。因为目标物体发射出的红外能并不是仅由温度这一个因素来决定的。还有另一个变量必须考虑，这个变量我们称之为发射率（或发射的趋势）。一个物体的发射率受到材料本身、表面状态、反射率和不透明度的影响。发射率常常会使测温变得复杂。因此，理解发射率的概念及其特性，对于正确使用红外测温仪是至关重要的。

发射率和黑体的科学定义

发射率的科学定义是在某一特定温度下物体发射出的红外能与理论上在没有损失时的完全值的比例。换句话讲，发射率就是一个物体实际发射的红外能与其理论值的比率。这一值介于0.000和1.000之间。发射率如果能够达到理论上没有损失的完全值，则称之为黑体。黑体是一个完美的发射器，因为它理论上发射100%红外能，所以它的发射率值为1.000。一个物体如果发射出60%的理论上的红外能值，则称其发射率值为0.600。

几百年以来，对于黑体在各种温度和波长下所发射出的红外能已有详尽的记录，并已成为物理学的一种基础。红外测温仪在校对时是以黑体发射器为基准的。红外测温仪在使用时必须能够准确说明测量条件的特征。对非常接近黑体的对象，红外测温仪的结果通常更为准确。如果应用对象远离黑体条件，并且存在特定的安装问题，则需要慎重地对红外测温仪进行选型。而正确选型的前提是对红外测温仪本质原理的准确把握。

实际发射率的定义

虽然发射率的科学定义是很重要的，但是通常在实际操作中是无法应用的。我们需要了解实际发射率的定义以及一些基本概念。

在通常情况下，红外能表现为三种形式，即发射、穿透和吸收。

反射率+ 穿透率+ 吸收率= 100%

如果目标是不透明的，则其穿透率为0。以上公式变为：

反射率 + 吸收率 = 100%

如果目标吸收红外能（热能），它的温度会上升。当物体处于等温状态时，它发射出的能量和吸收的能量是相同的。因此，吸收率 = 发射率。以上公式变为：

发射率 + 反射率 = 100%

还可以表述为：

发射率 = 100% - 反射率

因此，对于一个不透明的物体，发射率是反射率的倒数，即发射率 + 反射率 = 100%。而对于一个透明的物体，其发射率 + 反射率 + 穿透率 = 100%。

换句话说，对于一个不透明的物体，发射率和反射率的和为100%。如果一个不透明的物体反射10%的能量，则发射90%的能量，其发射率值为0.900；如果一个不透明的物体反射60%的能量，则发射40%的能量，其发射率值为0.400。这一关于发射率的定义为理解发射率和理解红外测温仪提供了一个理论工具，因为反射率通常是容易测量和理解的。

在理解发射率时有一个难点，即大多数材料的发射率值是不固定的。被测材料本身是表面发射率的最重要因素，然而并不是唯一因素。其它一些因素，诸如表面纹理、氧化度、微观结构、表面污染物以及镀层等等因素都会影响材料的发射率。比如，钢水的发射率和固体钢的发射率就有很大差别；又比如，热轧钢的发射率和冷轧钢的发射率也不一样。这里还有另一个难点是关于材料的颜色。有些金属迭片可以表现为任何颜色，但其发射率值是固定的，并不受到颜色变化的影响，但它的表现结构在很大程度上影响发射率值。通常高光泽度表面的材料比低光泽度表面的材料发射率低。迄今为止，有许多关于各种材料发射率值的记录。不幸的是，这些记录大部分是不准确的，也存在许多误解。

黑体材料

假设有一种物体，在某一给定的温度下能够全部吸收投射到其表面的任何波长的辐射能量，则称之为黑体。黑体材料是一个完美的发射器，它的发射率值为1.000或100%。也就是说，一个完美的黑体材料是完全无反射的。在各种材料中，反射率越低，发射率越高，这种材料就越接近黑体材料。因此，反射率相当低的材料，诸如纸、纺织品、水泥和砖能够使用一个简单的、一般的红外测温仪来精确地测量其发射率，因为他们非常接近于黑体材料。然而也有很多材料与黑体材料大不相同，它们具有很高的反射率和穿透率。这些与黑体材料大不相同的材料，根据其发射率特点，大体上可以分为三种类型，即灰体材料、非灰体材料，以及可选择型发射体。

灰体材料

灰体材料的发射率值低于1.000，并且其发射率值在任何波长下都是相同的。灰体材料通常具有固定的发射率值，仅仅在其表面粗糙度改变的情况下，这一值才可能被改变，其它情况下则是一个常数。一个灰体材料在某一给定温度下发射出的红外能如果是黑体材料的70%，则其发射率值为0.700。通常来说，不透明的物体具有一个相对高的发射率值（通常反射率在0.300-0.400之间，发射率在0.600-0.700之间），这种物体通常称为灰体材料。

非灰体材料

非灰体材料在不同的波长下具有不同的发射率值。对于不透明的材料来说，发射率随波长变化的趋势，主要是由材料的微观表面结构和物理属性所决定的。而对非灰体材料来说，对于红外能的吸收、反射和穿透的趋势取决于波长。可选择型发射体是一个特殊的非灰体材料，将在下一章节另作谈论。

材料的表面纹理和氧化度也会影响表面发射率。尽管我们认为反射率高的材料是很光滑的，但在显微镜下，其表面还是有很多褶皱和裂缝。这些褶皱和裂缝很小，通常红外波无法进入，所以材料在此波长下具有较高的反射率。然而，如果波长足够小并可以进入这些褶皱和裂缝，则会有所损失，物体的反射率就会变低，材料在反射率较低时发射率较高，在反射率较高时发射率较低。因为比起长波，短波更容易渗入褶皱和裂缝，因此在用短波测量时，被测目标的发射率比用长波测量时更高。通常发射率值低于0.400-0.500的金属，我们称为非灰体。

另外，表面纹理和氧化度的变化同样会引起基于波长的发射率变化。如果氧化结构的表面缝隙大于红外波长，比如氧化铁表面就显得很粗糙，其发射率相对较高，并且用小于此结构缝隙的所有波长进行测量时，发射率和反射率都是不变的。相反地，如果氧化结构的缝隙很小，比如氧化铬镀层，此时短波可以渗透，而长波则不行。随着氧化层变厚，渐渐能够吸收所有的波长，则其发射率值在各种波长下都是不变的。比如薄的胶片表面具有非常细致的氧化层，很容易把它看成是透明的，因此这些镀层在影响其表面纹理的同时，也可将其看成是可选择型发射体。

可选择型发射体

红外能是一种电磁能，就像可见光、无线电波和X射线。如果在胸口打上一束光，它不能穿过，而如果是X射线就能够穿过。光与X射线的唯一区别就在于波长。所以通过改变波长，有些物体会变得更加透明或更加不透明，玻璃就是一个很好的例子。玻璃在短波下是透明的，但在波长大于4.8mm的长波下则是不透明的。也就是说，在短波下玻璃的发射率更低。而因其在长波下是不透明的，因而此时具有更高的发射率。玻璃的发射率也随着波长的改变而改变，在6.6-8.2mm的波长下，玻璃是高度不透明和高度低反射的。这一波段也是玻璃具有最高的发射率值和最类似于黑体材料的波段。

薄的塑料胶片是最典型的可选择型发射体。这种材料是由一长串氢和碳原子链组成的，这一可重复的统一的分子结构使得分子和原子以一个均匀的频率和谐地振动。与这一振动频率一致的红外波长被塑料材料优先吸收（不是反射或穿透）；另一方面，这一材料发射出的红外能首先是与振动频率一致的波长。当我们观察一个塑料夹层带时，它是透明的。但如果用一个与振动频率一致的3.43mm长度的波来测量，这个夹层带则是完全不透明的。当测量一个可选择型发射体的温度时，选择与一个强的发射波段一致的波长是至关重要的。在这种波长下，红外发射最为接近黑体条件，该材料也具有最高的不透明度和最低的反射率。可选择型发射体的另一些例子是所有的气体和所有的高透明材料。许多晶体材料，比如硅和陶瓷也是可选择型发射体。统一的分子结构使这些材料具有如上所述的发射率特性。

薄膜镀层也可以看成是可选择型发射体。在金属工业领域，金属薄板经常会被镀上一层薄膜。油基漆、水基漆、机油和腊是最为常见的涂在金属外部的镀层，它们都可以看作是可选择型发射体。这些材料在有些波长下是高度透明的，在另一些波长下则是高度不透明和低反射的。镀层的发射率在很大程度上取决于波长。一个红外测温仪的最佳波长应该能够随着镀层材料、镀层厚度、所需温度范围，以及对镀层的观测和穿过镀层观测的需求的变化而变化。

如何用简单的方法来搞定发射率！

各种物体表面的发射率是由物体表面的材质决定的，是否您在使用热像仪测量不同材质物体表面温度时，尤其是光亮的金属或非金属表面，陷入解决发射率的困境了呢？如果是，不用急，小编教你如何用简单的方法来搞定发射率！

1、表面可处理之绝缘胶带法

a. 适用场合：适用于被测目标相对比较大，温度较低（小于100℃），要求测试后不改变原目标表面状况的场合，例如各种散热模块、光洁器件表面、金属表面等

b. 操作方法：贴绝缘胶布（建议使用3M电气绝缘胶带，颜色不论），之后将热像仪发射率设为0.95

c. 注意事项：应尽量使胶带与被测目标的表面接触紧密，没有气泡或褶皱等现象，需要预留5分钟以上时间，使被测目标表面与胶带充分达到热平衡状态。一般胶带只能耐温100℃，若检测高温建议使用高温胶带最高至300℃。

2、表面可处理之涂漆法

a. 适用场合：此种方法可以适用于温度较高目标，也可以适用目标尺寸较小的，客户可以接受被测物体表面颜色被改变的场合，例如在制造业中，较小的芯片表面、管脚、不规则的散热片、电容器顶端、LED芯片（表面镀银）等

b. 操作方法：油性笔或丙烯酸树脂喷漆（哑光漆或橘皮漆），发射率设为0.95-0.97

c. 注意事项：应尽量使漆面均匀，而且薄（但要覆盖住被测目标表面）；为保证充分达到热平衡，建议涂漆3分钟后再进行测试。大部分漆的耐温为400 ℃以下，若目标温度较高建议使用氧化铜高温漆最高至1000 ℃。

电路板上的金属器件一般都需要用漆层进行覆盖

3、表面可处理之导热硅脂法

a. 适用场合：1)当涂漆和贴胶带可能会影响金属表面散热，改变金属原有的温度 2)涂漆后不方便擦拭 3)部分材质漆层有导电的隐患 4)胶带粘贴比较麻烦，特别对

于非规则形状物体

b. 操作方法：使用导热硅脂（可在各化学品、化学试剂销售网点购买），设置发射率0.95

c：注：导热硅脂的导热系数λ＞0.8W/m.k，可真实反映金属表面的温度状况。导热硅脂在-50℃～180℃内不溶化、不流失、不挥发。

涂有导热硅脂的金属表面

4、表面不可处理之空腔效应法

a) 空腔效应：当空腔的深度是其宽度的7倍以上时，其发射率将接近0.95，即使目标材料是光亮的，这就是空腔效应。

b) 适用场合：在光亮金属表面上（如电气设备），螺栓孔、螺纹、垂直角落甚至划痕，都会提供近似真实温度的信息。

加热后温度均匀的铝块上的从左往右深度变浅的孔，从左往右温度依次下降

c) 当光亮金属表面无法打孔或进行表面处理时，可以反向设计空腔体，如将热像仪至目标间的光路包围起来的方法就制成了一个类似空腔环境，这时金属表面发射率将会提高，有利于检测的准确性和稳定性

一般而言，洁净、未氧化、裸露的金属表面发射率较低，有的甚至难以使用红外热像仪测量。在许多工业研发应用中，发射率低的物体普遍存在，而在电气应用中尤为突出。为了获得理想的测量结果，需要提高这些目标的发射率。

热像仪记录了电磁光谱中红外波段的辐射强度，然后将其转化为可见光图像。源自某一物体的红外能量通过热像仪的光学镜头聚焦，传递至红外探测器上，探测器将信息发送至传感器电子元件，进行图像处理。电子元件将来自探测器的数据转化为可在取景器、标准视频显示器或LCD显示屏上查看的图像。红外成像是一种将红外图像转化为辐射图像，可在图像上读取温度值的技术。因此，红外图像的每个像素点实际上对应一个温度值

细看这幅热图像，可能认为树叶的表观温度要比杯子的表观温度低。实际上，它们的温度相同，红外辐射强度差异是因辐射率不同所引起。

为了正确解读热图像，需要了解不同材料与环境如何影响红外热像仪的温度读数。发射率是指：与完全发射体相比，目标物体发射红外辐射的效率(完全发射体又称为黑体，其发射率值为1)。实际上，我们的测量目标并非完全发射体，其发射率值往往小于1。目标的测温值源于发射、传输与反射辐射量的总和。

完全黑体的辐射率为1。换言之，目标的辐射量完全由物体表面发出。

为热像仪设置正确的发射率值至关重要，否则，测温值将不准确。FLIR Systems已为许多材料预定义了发射率值，其它材料的发射率值详见发射率表。

目标物体的发射率、反射率和热传导值受材料的影响较大。大多数非金属材料的发射率值接近0.9，表示所测90%的辐射由目标发出。大多数抛光金属的发射率值约为0.05至0.1。根据氧化或腐蚀的不同程度，生锈、被氧化或被腐蚀金属的发射率值范围为：0.3至0.9。

如果不能提高目标物体的发射率值，那么，发射率低于0.7的材料将会很难测量，低于0.2的材料几乎无法测量。幸运的是，可使用十分经济实用的方法来补偿目标的低发射率。以下六种方法可以降低目标的反射率，从而改善测量精度。

六种简便方法增加测量目标发射率，提高测量精度

一、电工胶带

大多数优质电工胶带的发射率为0.95。须注意的是胶带是不透明的，尤其是使用中波长(3-5μm)相机时。某些乙烯基胶带质地非常薄，具有一定的红外透射比，因此无法用作高发射率涂层。Scotch™品牌88黑色乙烯基电工胶带在短波(3-5μm)和长波(8-12μm)区段，发射率均为0.96，在此推荐使用。

本例展示了贴有胶带的两个罐子。左边的罐子装满热水，右边的罐子仅处于常温之下。对前者而言，从胶带读出的温度为72.8˚C，从罐子读出的温度为23.5˚C。由于罐子的发射率较低，后者的读数基本上为环境读数。这是一个十分经典的案例，说明了高发射率应用于低发射率目标的必要性。

二、涂料 & 涂层

大多数涂料的发射率范围为0.9-0.95。金属漆发射率较低，不推荐使用。涂料的颜色并非影响红外发射率的重要因素。涂料的光泽度比颜色更重要。平光涂料比光泽涂料更受欢迎。为了增加不透明度，涂层必须足够厚。施加两道涂层通常可以满足需求。

左图：未涂覆发射率增强涂料的印刷电路板。 右图：使用涂料的缺点在于减少了精细的细节信息。

胶带适用于小面积区域。涂料适用于大面积区域，但是涂料是永久性涂层。对于大面积需要被去除的涂层，或者胶带不适用之处，悬浮液粉末或喷涂效果会更优。染色渗透剂与Dr. Scholl’s™喷用足光粉便是2个很好的例子。

如果粉末喷涂得足够厚，且不透明，这两种粉末的发射率范围均在0.9至0.95之间。

三、修正液

使用修正液是增加表面发射率的有效途径。这种方法可应用于最小的电气元件中，性能优于无法在小面积表面粘贴的胶带。修正液可使用刷子与酒精清洗掉。对于低波长热像仪，修正液的发射率约为0.95-0.96。

四、深层建议

由于许多目标通常是带电的，需要特别小心。只有在目标未通电时才能对其施加涂层，通电后，只能使用经过批准的涂层确保正常运行。

确保涂层能覆盖足够面积的区域。了解热像仪测量的距离系数比，以及测量的最小安全距离。例如：距离系数比为250:1的热像仪，可在最远2.5m处对1cm的目标进行测量。

对于更高温度应用，可使用耐高温涂料，如：发动机或木炭烤炉涂料。胶带与粉末会受到应用温度范围的限制。对于电气系统，如果胶带在熔化时，可能会导致十分严重的问题。因此，这一应用需要用到高温材料。

五、确定发射率

了解发射率值对于从测量辐射的角度进行实际温度评估十分必要。然而，使用发射率表时需十分谨慎。通常不清楚发射率在什么波段是有效的。发射率确实会因波长而改变。同时，表面状况、质地和形状对材料的发射率影响较大。

以下是理解发射率不确定性影响测量精度的一种方法： 假设目标发射率的不确定性为±0.05。当发射率为0.95时，表示存在5%的误差(0.05/0.95)。对于表面光泽的铜材，发射率为0.05时，表示存在100%的误差(0.05/0.5)。这些误差将被带入温度计算中，增加温度读数的误差。鉴于这一原因，我们建议：当目标发射率低于0.5时，不要进行温度测量。测量之前，最好对该目标加覆一层高发射率材料。

六、控制印刷电路板的发射率值

为了控制发射率值，可对印刷电路板上加覆一道涂层。

在故障检修期间，测量印刷电路板上密集元件的温度是一项十分有用、而且经济实惠的技术，但由于不同元件的E值均不相同，操作起来难度比较大。通常，印刷电路板上布满了各种由不同厂家生产的金属与塑料元件，而不同生产商使用的抛光剂均不相同。当电路板经过已知、已检测和特征明显的涂层处理后，通常可以简化问题。施加涂层后，元件表面拥有相同的E值，相关温度可通过记录温度曲线来确定。

以上的介绍是否解决了您的工作难题呢？如果有任何问题，欢迎致电400-808-2117，我们一直致力于给您提供最专业的红外技术应用解决方案。

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