（设计性实验）

掌握汇编语言设计和调试方法。

本程序一般用于把数据送显示缓冲区。设计思路是：利用DPTR寄存器做为地址指针，采用寄存器间接寻址的方式访问外部RAM。利用与操作指令从一个字节中取出需要的数据。

星研SUN ES59PA单片机实验仪和PC机。

实验内容：编程实现把外部RAM 0000H单元的内容拆开，高4位送外部RAM 0001H单元的低4位，低4位送外部RAM 0002H单元的低4位，0001H、0002H高4位清零。 实验步骤：① 在星研集成环境下新建项目文件，然后新建源程序文件，注意源程序文件的扩展名应该是ASM。输入源程序并存盘；② 对源程序进行编译、链接形成目标代码，同时排除源程序中的错误；③ 将编译、链接形成的调试文件（.DOB）下载到单片机实验仪中；④ 利用单步、运行到光标所在行等方式进行程序调试；⑤ 检查程序运行结果并进行分析。

在调试过程中，一旦出现单片机实验仪死机的情况，可以在星研集成环境中点击“复位”图标对实验仪进行复位。然后重新将调试文件下载到实验仪中，继续调试。

1、如果将内部RAM 30H单元的内容拆开，拆分的结果也存储在内部RAM中，应该如何做？ 2、如果要求拆分后数据的高4位全为“1”如何实现？

本课程理论课的授课教材。