晶圆测试 – 合肥芯测半导体

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晶圆测试 – 合肥芯测半导体

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具有专业化的测试平台,先进的测试系统与能力,包括前段测试需求评估,测试程式开发,测试平台转换,机台比对,工程验证,量产,出货检验,包装,出货,测试资料整合等。在晶圆针测方面,合肥芯测提供晶圆测试过程中CP1,CP2,CP3等不同制程的测试,另外,具有高温烘烤等晶圆测试方面的服务,可满足不同客户不同产品的测试需求。以客户需求为导向,为客户提供多元化的测试平台选择。目前Prober支持8寸、12寸晶圆测试。无尘车间环境达到class 100、class 1000,可以满足不同类型产品的晶圆测试需求。拥有高阶探针卡维修保养能力,能够为客户提供快速专业的针卡保养维修服务,节省时间,提升产能。芯测致力于8寸,12寸晶圆测试和芯片成品测试,服务的产品涉及存储器,汽车电子,照相,蓝牙,指纹,传感器等各个领域。服务的产品有:CMOS Image Sensor MemoryTOF AR/VRMCU/ControllerRFFinger print



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