Focus Ion Beam（FIB）- Digital Image Correlation（DIC）是一种结合FIB离子束微纳加工和数字图像相关技术的微观残余应力表征方法，该方法的空间分辨率可达数微米，甚至能到数百纳米，能够实现局部微观应力测量，且测量时还可以通过SEM对工件进行实时观察，精确定位特定的组织结构，获得目标区域的微观残余应力，特别适用于薄膜材料、电子元器件、无晶体结构材料的局部微观残余应力测量。

材料微观表征技术 （点击查询）

FIB聚焦离子束（双束）显微镜 TESCAN AMBER GMH

1、高层次的专业技术团队：我院博士占比30%以上，在材料微观组织结构和力学性能表征方面有非常丰富的行业经验； 2、先进完善的检测设备：包括国际知名品牌厂家的FIB双束电镜和场发射扫描电镜等，配合力学表征和三维形貌测试，可以为客户提供全面的测试服务； 3、我院专注于金属材料研究，可针对客户的需求定制专业的技术解决方案，为客户提供高效、快速的技术支持和测试服务。