哈尔滨工业大学（深圳）学术讲座

演讲人Speaker：     翟玉卫，中国电子科技集团公司第十三研究所高级工程师

题目Title: 电学法、红外法、热反射法在半导体功率器件结温测量中的应用

时间Date：   2024年 7 月 16 日 16：00-17：00

地点Venue：  G栋 415 室

内容摘要Abstract： 

针对宽禁带半导体功率器件对精确测温技术的需求，采用电学温敏参数技术、红外热成像技术和热反射率热成像技术分别对典型Ga2O3 SBD、GaN HEMT进行了结温测量。从测温技术基本原理出发，结合器件的结构特性分析了三种技术手段的适用性和局限性。依据器件物理结构，结合有限元仿真对三种技术测试结果的差异进行了分析。

个人简介(About the speaker):

翟玉卫，男，中国电子科技集团公司第十三研究所高级工程师，国家一级注册计量师，所级测试技术专家。主要从事半导体芯片计量测试技术研究，主持国家级、省部级科研项目4项，获得省部级科技奖励4项，发表各类学术文章20余篇，获得发明专利授权10余件。