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发明 一种马赫-曾德尔调制器频率响应测试装置与方法
申请号:CN202211499129.2 申请公布号:CN115811361A 申请日:2022-11-28 申请公布日:2023-03-17 分类号:H04B10/079(2013.01); 专利代理机构: 无 代理人: 无 地址:611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 申请人: 电子科技大学 查商标 最终专利权人: 发明人: 张尚剑 杜歆湉 徐映 摘要: 本发明公开了一种马赫‑曾德尔调制器频率响应测试装置与方法,低频调制光载波模块输出光信号被低频光载波模块射频驱动电极上接的低频信号源输出频率为f1的正弦信号调制,并送入待测马赫‑曾德尔调制器中被待测马赫‑曾德尔调制器射频驱动电极上接的射频信号源输出频率为f2的正弦信号调制,调制光信号在光电探测器中进行拍频,由数据采集模块测量射频信号源处于开启与关闭状态下光电探测器输出电信号中频率为f1的幅值,并对射频信号源的输出功率进行测量,得到待测马赫‑曾德尔调制器在f2频率处的调制系数与半波电压;通过控制及数据处理模块控制射频信号源扫频,重复上述步骤获得待测马赫‑曾德尔调制器在扫频范围内的频率响应。 法律状态: 日期 最新法律状态 描述 2023-03-17 公开 公开 查看费用信息 查看PDF文档 下载PDF文档 下载WORD文档1 * 专利查询信息仅供参考,实际以国家知识产权局公告信息为准。 |
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