忆阻器(一) |
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忆阻器字面包含两层意思:一是电阻,二是具有记忆性。它是伯克利的蔡少棠教授由电路完备性的角度预言的器件,下面我们也尝试一番。 一、电路理论完备性已知四个基本电学量:电流
I
I
I、电压
V
V
V、电荷
Q
Q
Q和磁通量
φ
\varphi
φ。从中任取两个量,就有
C
4
2
=
6
C_4^2=6
C42=6种组合,即六种关系:
{
R
=
V
I
I
=
d
Q
d
t
V
=
d
φ
d
t
L
=
V
d
I
/
d
t
=
d
φ
d
I
C
=
Q
V
d
φ
d
Q
=
?
\begin{cases} R=\frac{V}{I} \\ I=\frac{dQ}{dt}\\ V= \frac{d\varphi}{dt}\\ L= \frac{V}{dI/dt}=\frac{d\varphi}{dI}\\ C= \frac{Q}{V}\\ \frac{d\varphi}{dQ}=? \end{cases}
⎩⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎨⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎪⎧R=IVI=dtdQV=dtdφL=dI/dtV=dIdφC=VQdQdφ=? 可以简单用下面的图表示: 如果磁通量和电荷量存在一一对应关系,那么可以定义 φ \varphi φ随Q的变化率: M = d φ d Q = d φ / d t d Q / d t = V I M=\frac{d\varphi}{dQ}=\frac{d\varphi/dt}{dQ/dt}=\frac{V}{I} M=dQdφ=dQ/dtdφ/dt=IV 即M具有电阻的量纲,但它的的值依赖于过去流经该器件的电荷总量Q,因此具有记忆功能。 二、真实器件2008年,惠普实验室发现
P
t
/
T
i
O
2
/
P
t
Pt/TiO_2/Pt
Pt/TiO2/Pt三明治叠层架构重现捏滞回线,并用简洁的边界迁移模型来解释器件的忆阻现象:电阻为
T
i
O
2
TiO_2
TiO2薄膜,由高浓度掺杂的低电阻(
R
O
N
R_{ON}
RON)和低浓度掺杂的高电阻(
R
O
F
F
R_{OFF}
ROFF)串联而成,电荷Q的积累会改变分配的比例,如图: 假设系统的输入电流 I ( t ) = I 0 s i n ( ω t ) I(t)=I_0sin(\omega t) I(t)=I0sin(ωt),初始条件 x ( 0 ) = c x(0)=c x(0)=c,可以积分得到状态变量: x ( t ) = c + k I 0 ω [ 1 − c o s ( ω t ) ] x(t)=c+\frac{kI_0}{\omega}[1-cos(\omega t)] x(t)=c+ωkI0[1−cos(ωt)] 进而得到输出电压: v ( t ) = a 1 s i n ( ω t ) + a 2 s i n ( 2 ω t ) v(t)=a_1sin(\omega t)+a_2 sin(2\omega t) v(t)=a1sin(ωt)+a2sin(2ωt) 其中 a 1 = ( R O N − R O F F ) I 0 ( c + k I 0 ω ) a_1 = (R_{ON}-R_{OFF})I_0(c+\frac{kI_0}{\omega}) a1=(RON−ROFF)I0(c+ωkI0), a 2 = ( R O N − R O F F ) k I 0 2 2 ω a_2 = (R_{ON}-R_{OFF})\frac{kI_0^2}{2\omega} a2=(RON−ROFF)2ωkI02。 选择参数
k
=
1
×
1
0
4
,
R
O
N
=
100
Ω
,
R
O
F
F
=
10
k
Ω
,
c
=
0
,
ω
=
5
r
a
d
/
s
k=1\times 10^4,R_{ON}=100\Omega,R_{OFF}=10k\Omega,c=0,\omega=5rad/s
k=1×104,RON=100Ω,ROFF=10kΩ,c=0,ω=5rad/s,利用matlab可以计算得到电压随电流变化的数值关系:(代码见附录) 再仔细比较电流
I
I
I,状态参数
x
x
x,电阻
M
M
M,电压
V
V
V随时间的变化关系如下: 着重比较电流和电阻变化图,发现电阻在 6 k Ω 6k\Omega 6kΩ与 10 k Ω 10k\Omega 10kΩ之间波动,而且当电荷累积最大的时候,电阻达到最小值;无电荷累积的时候,电阻最大。 我们还可以变化参数,得到不同的电压——电流变化图: 顺便推荐matlab在线运行的网址,只需要学生邮箱注册。 原文链接 |
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