飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS），使用一次脉冲离子入射固体材料表面，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量, 以表征材料表面的元素成分（H~U）、同位素、分子结构、分子键接等信息。

TOF-SIMS可以分析所有的导体，半导体，绝缘材料; TOF-SIMS的分析深度2nm左右，横向空间分辨率可达70nm; 能鉴别高质量数的有机大分子；探测灵敏度很高，可以达到ppb~ppm量级；结合不同溅射离子源，TOF-SIMS可进行2D和3D成像来表征成分的分布；对于材料表面成分及分布，表面多层结构/镀膜成分，表面异物残留(污染物、颗粒物、腐蚀物等)，表面痕量掺杂，表面改性，表面缺陷（划痕、凸起等），有机和无机半导体器件等有很好的表征能力。

尤其近几年TOF-SIMS在矿物、纳米材料、聚合物材料、生物医药、能源电池材料、有机半导体等领域都有很好的应用。

本次课程将通过基本原理、技术特点、应用案例等3个方面深入浅出带你更好地了解什么是——飞行时间二次离子质谱仪（简称TOF-SIMS）。

课程安排

（1）TOF-SIMS基本原理介绍

（2）TOF-SIMS主要技术特点

（3）TOF-SIMS应用案例 

讲师介绍

             丁志琴，PHI-CHINA高德英特(北京)科技有限公司应用工程师。2017年-2020年于西北大学化学与材料科学学院获得硕士学位，于2020年7月加入 PHI-CHINA高德英特（北京）科技有限公司。

课程剪影

             TOF-SIMS基本原理：

TOF-SIMS质谱图：

TOF-SIMS 二维Mapping图：

TOF-SIMS 深度剖析以及3D重构：

上课时间

6月3号（周四），晚上19:30

课程参与方式

B站直播讲座

UP主：指南针学院

关注我们即可在上课时间观看公开课讲座。

福利抽奖

讲座开始后当晚举行线上幸运抽奖，

具体参与规则详见直播中主持人解释。

课程联系小师妹

本次课程提供回放视频！

更多课程详情欢迎联系小研师妹（17328643177）