OCV全称是on chip variation，指的是在同一片wafer上，因为片上工艺的误差，导致不同位置的chip性能不一样。另外对于同一块chip，不同位置上的同一类cell的性能也会有差异。这些差异所影响最大的就是timing相关的东西，delay、transition什么的都会有所影响。为此我们引入OCV的概念，用来在设计阶段模拟这些片上误差。

举一个具体的例子让大家更好理解OCV的概念，比如一个cell的lib中的延时是10ns，同样的电路，同样的input和output，这颗cell做出来的实际延时可能是9.9ns，也可能是10.1ns，一般不会刚刚好就是某一个确定的数值，而是会在10ns左右浮动。注意这个浮动并不是PVT影响的，纯粹是片上工艺偏差所带来的，就是说在同一个corner下，因为有OCV，一个cell的delay就不是固定的值。这对我们timing的分析至关重要，如果不考虑OCV的影响，所分析出来的timing结果会过于乐观。而我们一般signoff的时候都希望芯片在最悲观的时候还可以正常工作才行。

为此，最传统、朴素的想法就是给chip中的所有cell加上一个derate值，所有的delay都根据这个derate值来缩放。什么意思呢，比如说在算setup检查的时候，launch path要delay最大，capture path要delay最小，我们就放大launch path上所有cell的delay值，减小capture path上所有cell的delay值。也就是说假设de