一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置

您所在的位置:网站首页 上海国微芯芯半导体有限公司 一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置

一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置

2023-04-08 05:35| 来源: 网络整理| 查看: 265

申请/专利权人:上海国微芯芯半导体有限公司

申请日:2022-11-18

公开(公告)日:2023-03-21

公开(公告)号:CN115833835A

主分类号:H03M1/12

分类号:H03M1/12;H03M1/46

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2023.03.21#公开

摘要:本公开实施例中提供了一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置。通过本公开的处理方案,利用过采样期间同一模拟信号一般变化不大且采样误差不超过2M的特性,在常规SARADC转换器的基础上,增加了过采样误差范围信号、过采样使能信号、上一组结果寄存器及支持过采样的控制逻辑电路。当过采样使能有效时,尽量采用上一次结果寄存器的高位结果,从中间某位开始向低位逐次逼近确定剩余结果位。在不显著增加硬件资源的情况下,能有效提高SARADC对模拟信号连续多次采样转换的转换效率,缩短模拟信号过采样时间。

主权项:1.一种逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,包括:若接收到过采样使能信号,则获取过采样误差指数M;获取上一组结果寄存器存储的转换数据PN-1PN-2PN-3…P1P0,其中,N为采样位数,PN-1为最高位转换数据,P0表示最低位转换数据;设置本次转换数据为DN-1DN-2DN-3…D1D0,其中,N为采样位数,DN-1为最高位转换数据,D0表示最低位转换数据;按从低位到高位的顺序,从所述转换数据PN-1PN-2PN-3…P1P0中查找距离误差指数位数据PM-1最近的比特位数据PL=0时的比特位参数L;令逼近位参数K=L;设置DN-1DN-2DN-3…DK+1=PN-1PN-2PN-3…PK+1,DK=1,DK-1…D1D0=0;从DK开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定DKDK-1DK-2…D1D0;将DN-1DN-2DN-3…D1D0作为输出的模数转换数据并存储在结果寄存器中。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海国微芯芯半导体有限公司 一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置

免责声明 1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。 2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD


【本文地址】


今日新闻


推荐新闻


CopyRight 2018-2019 办公设备维修网 版权所有 豫ICP备15022753号-3