工作原理：

XRD即X射线衍射（X-ray diffraction）。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构。晶体结构可通过点阵类型、晶面间距等参数表征出来。使用X射线，在一定条件下照射被测样品，可产生相干的散射（衍射）信号，经分析后可获取晶体的结构参数，还可进而推断样品的物相组成、含量，以至晶粒尺寸、结晶度等其他多种结构相关信息。

实验室设备介绍及样品要求：

本实验室现有两台套X射线衍射仪（理学DMAX RAPID II、布鲁克D8 Advance），测试对象可以是微量粉末（＞0.001g，＞200目）、常量粉末（＞0.2g，＞320目）、固体碎屑微粒（粒径0.03至1mm，用透射法）、块状颗粒（粒径＜1cm，有平整表面，用反射法）、粘土滴片（26*26mm光面载玻片）、岩石薄片（光学片、电镜片、注胶抛光颗粒等，用反射法）。

理学 DMAX RAPID II系统：

光源：5.4kW（Cu、Mo可切换）转靶点光源；窗口束斑直径约1mm；可约束束斑直径至0.03mm、0.05mm、0.1mm、0.3mm、0.8mm

测角台（样品台）：双转轴（Omega、Phi）单平移轴（Z）基台，配双平移轴（X、Y）手动或自动样品架基座，可换装毛细管用变温样品架（室温至400℃）

探测器：桶形固定式面探测器，衍射角（2θ）测量范围（-45°，165°），方位角（β）测量范围（2θ＜45°时β360°全域可测。

设备用途：1、微量粉末测试；2、微粒测试；3、原位微区测试（块体、薄片）；4、高温反应实时测试

布鲁克D8 Advance系统

光源：3kW（工作功率1.6kW）Cu靶线光源。

光路：电控自适应狭缝系统，可在扫描过程中自动调整入射线端、样品台和衍射线端多种狭缝开口（不包括索拉狭缝）。

测角台（样品台）：样品台单转轴（垂直轴Phi），单平移轴（垂直轴Z）；90位自动进样器，可换装真空高温台（室温至1600℃）。立式θ/θ测角台，扫描范围-110°~168°，步进马达、光学编码器双重定位。

探测器：型号LYNXEYE  XE-T能量色散二维阵列探测器，动态范围≥108cps，线性≥4×107cps，背景≤0.1cps

设备用途：1、常量粉末（0.2g~1g）测试；2、粘土滴片样测试；3、高温反应实时测试。