超详细教程!TEM、SEM电镜图片粒径测量、分布统计、Origin作图 |
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今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒,所用的软件是Nano Measurer和Origin。Nano Measurer在操作方面,比Image J、DigitalMicrograph(DM)要简单很多。 它可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析,自动绘制统计分布图,粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出。 Nano Measurer软件安装 解压安装包,运行Nano Measurer,选择安装语言,一直点击下一步安装,直到整个软件安装完。 关于安装中msvbvm60.dll的错误: 少数同学反馈安装时,系统会弹出关于msvbvm60.dll文件错误对话框。请选择"忽略(Ignore)",继续安装。然后将上图中的msvbvm60.dll文件复制到计算机的C:\windows\system32目录下.\ Nano Measurer使用教程 运行Nano Measurer 1.2软件,打开需要统计的SEM图片(Jpg格式),首先设置标尺,如图 注意:软件只支持*.bmp和*.jpg格式图片,对于TEM文件(一般是*.dm3),请用软件打开,然后在电镜图片上鼠标右键,复制图片,再使用Windows自带的软件新建一个空白的画板,粘贴图片,最后作适当裁剪(除去空白的边幅)。 在对颗粒进行标记统计,至少需要10个数据及以上,详细步骤: 1. 打开电镜文件,在电镜图片上按住鼠标左键不放,拖动鼠标,由此确定标尺;单击菜单"设置"->"标尺",在窗口中输入标尺真实长度和单位; 2. 拖动鼠标在电镜上标示颗粒,每标示一个颗粒,程序会记录其序号和粒径,结果会在"即时报告"窗口中显示; 3. 对于效果不理想的颗粒,可将鼠标放在电镜图片的颗粒序号上,单击鼠标右键删除,或在"即时记录"窗口中选择某个颗粒序号,单击鼠标右键删除; 4. 测量粒径中,可以点击菜单"设置"->"标记",选择颗粒序号在标记线的合适位置和颜色; 5. 当被测量的颗粒总数达到10个,可以单击菜单"报告"->"查看报告"; 6. 测量颗粒中,可随时在电镜图片的空白区域内,单击鼠标右键,选择菜单放大缩小电镜图片(最大放大3倍,最小缩小0.25倍); 7. 本程序缺省设定样本组数为10,在组分布时,样本的组范围确定采用上偏,即2.5落在2.5-3.0内而非2.0-2.5内。 然后点击报告,将数据生成txt文件,保存在桌面以方便查找。 Origin对粒径分布作图 按下列步骤可以实现Origin对粒径分布的快速作图: (1)将导出文件的“统计报告”部分直接拷贝到Origin表格中(4列); (2)设表格第2列为X轴,第4列为Y轴,然后作图。 如需要自定义组数和样本组距可如下操作: (1)复制导出文件的"基本报告"部分至Origin表格中; (2)选择第2列右键鼠标运行"Frequency Count"命令。 详细步骤如下: 1. 打开Origin作图软件,将txt数据复制到Origin中,注意,只要数值 4. 选中Count(Y),使数据生成柱状图(Column) 5. 对柱状图进行正态分布拟合: 6. 点击Function 的对话框的下三角标,选中Gauss 7. 再点击Fit进行拟合,得到如图 8. 再对原始数据进行求取平均值和标准差。 10. 点击OK,得到平均值和标准差 11. 对图像进行处理,即可得到我们想要的图像 软件 |
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