本实用新型涉及卡槽插拔测试装置，尤其涉及一种智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置。

背景技术：

当前智能手机的外观各种各样，但为了实现轻薄的设计理念，普遍使用SIM卡托结构来更换SIM卡或存储卡的设计。更换SIM卡或存储卡达到一定次数后，SIM卡槽可能会出现触针弹性不良或卡槽松动等问题，进而导致SIM卡接触不良而无法正常工作，直接的表现为手机无法检测到SIM卡或存储卡。

目前实验室通常使用人工插拔SIM卡托来测试卡槽寿命，一二十次还好，但是当测试插拔次数达到几百上千次的时候，人员极度疲劳，浪费人力物力的同时，效率不高，容易失误，导致客户的测试质量和周期无法保证。

因此，现有测试方式还有待于改进和优化。

技术实现要素：

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的特点是实现自动弹出SIM卡托及自动推入SIM卡托，并且可以按需要设定SIM卡托插拔的次数，大幅度降低人员劳动强度的同时，提高了工作效率。

本实用新型的技术方案如下：

一种智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，包括：

顶针机构，用于将SIM卡托弹出；

推入机构，用于将SIM卡托推入卡槽;

动力机构，用于为顶针机构和推入机构提供动力；

所述顶针机构、所述推入机构分别通过连接件与所述动力机构固定连接。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述动力机构包括：电机、第一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮以及绕过第一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮的同步带；所述第一同步带轮、第二同步带轮、动力同步带轮呈三角形分布；所述电机与所述动力同步带轮电连接，通过所述动力同步带轮的转动带动第一同步带轮以及第二同步带轮转动。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述顶针机构包括：第一滑块，与第一滑块相适配的导轨以及设置在第一滑块一端的卡托弹出顶针。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述推入机构包括：第二滑块，与第二滑块相适配的导轨以及设置在第二滑块一端的卡托推杆。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，第一滑块连接件和第一同步带轮的连接点与第二滑块连接件和第二同步带轮的连接点、第一同步带轮中心点、第二同步带轮的中心点位于同一条直线上。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，还包括计数开关装置。

所述的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，其中，所述电机为减速电机。

有益效果：本实用新型可根据需求预设插拔试验次数和插拔速度，实现对智能手机SIM卡自动插拔寿命测试。本实用新型可以大幅度提高测试次数的准确性及每次插拔力度的稳定性，提高了试验的可重复性，降低工人劳动强度，具有较好的推广价值。

附图说明

图1为本实用新型所提供的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置较佳实施例俯视结构示意图。

图2为本实用新型所提供的动力机构的结构示意图。

图3为顶针机构与动力机构连接结构示意图。

图4为推入机构与动力机构连接结构示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置，为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅，图1为本实用新型所提供的智能手机SIM卡槽插拔寿命测试装置较佳实施例俯视结构示意图。如图1所示，装置包括：智能手机SIM卡弹出孔1，用于将SIM卡托弹出的顶针机构10；用于将SIM卡托推入卡槽2的推入机构20; 用于为顶针机构和推入机构提供动力的动力机构30；所述顶针机构10、所述推入机构20分别通过连接件40与所述动力机构30固定连接。

通过动力机构带动连接件运动从而带动顶针机构动作，将SIM卡托从移动终端的卡槽中弹出，再通过动力机构带动推入机构动作，将SIM卡托推入卡槽中，卡托的弹出与推入整个过程中均是通过设备来完成，降低了工人劳动的强度。

作为本实用新型一具体实施方式，参阅图2与图3，图2为动力机构结构示意图。所述动力机构30包括：电机301（如图3所示）、所述电机301为可调速减速电机；第一同步带轮302、第二同步带轮303、动力同步带轮304以及绕过第一同步带轮302、第二同步带轮303、动力同步带轮304的同步带305；所述第一同步带轮302、第二同步带轮303、动力同步带轮304呈三角形分布；所述电机301与所述动力同步带轮304电连接，通过所述动力同步带轮304的转动带动第一同步带轮302以及第二同步带轮303转动。

作为本实用新型一具体实施方式，所述顶针机构10包括：第一滑块101，与第一滑块101相适配的导轨102以及设置在第一滑块一端的卡托弹出顶针103。第一滑块在导轨上来回滑动，当第一滑块向手机时，顶针插入到SIM卡托弹出孔1，将其从卡槽中弹出。所述推入机构20包括：第二滑块201，与第二滑块201相适配的导轨202以及设置在第二滑块一端的卡托推杆203。所述卡托推杆非固定端设有一用于接触卡托的接触部2031，所述接触部可以为方形，圆形等，以便于将卡托推入卡槽中。

进一步，如图4所示，所述推入机构上还设有计数开关装置50，所述计数开关可以根据实验需要进行设定，记录插拔次数。

作为本实用新型一具体实施方式，如图1所示，第一滑块连接件401和第一同步带轮的连接点A与第二滑块连接件402和第二同步带轮的连接点B、第一同步带轮中心点O1、第二同步带轮的中心点O2位于同一条直线上。

具体来说，可调速减速电机301通电，逆时针旋转，当第一同步带轮逆时针旋转90度，通过第一滑块连接件401将SIM卡托弹出顶针103移动到最左端，将SIM卡托从卡槽中顶出，此时第二同步带轮逆时针旋转90度，通过第二滑块连接件402将SIM卡托推杆移动到最右端，给SIM卡托留出空间。

第二同步带轮逆时针旋转180度，通过第二滑块连接件将SIM卡托推回手机卡槽；此时第一同步带轮逆时针旋转180度，通过第一滑块连接件将SIM卡托弹出顶针移动到最右端，防止卡托被SIM卡托弹出顶针顶出。此时计数开关装置50完成一次插拔次数。直至计数开关装置50达到设置的插拔次数，控制可调速减速电机301停机。

综上所述，本实用新型实现自动弹出SIM卡托及自动推入SIM卡托，并且可以按需要设定SIM卡托插拔的次数，大幅度提高测试次数的准确性及每次插拔力度的稳定性，降低工人劳动强度，具有较好的推广价值。

应当理解的是，本实用新型的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。