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技术特征：1.cmos探测器调试系统，包括控制器和探测器，其特征是：还包括vdd18d、vdd18ad和vdd5a的ldo供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路；所述控制器给探测器提供探测器的系统工作时钟，输出的信号经电平转换电路后形成spi及控制信号；控制器同时通过对vdd18d、vdd18ad和vdd5a的ldo供电及电流检测电路，电荷转移栅低压供电及电流检测电路，像素和基准源供电及电流检测电路，源级跟随器供电及电流检测电路，电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路进行控制，按照探测器的上电时序要求产生各部分供电和控制信号的上电时序；所述探测器输出串行图像数据，送控制器进行串行图像数据的训练后转换为并行图像数据。2.根据权利要求1所述的cmos探测器调试系统，其特征在于：所述探测器工作时钟采用oddr的可控输出模式。3.cmos探测器的检测方法，其特征是：该检测方法通过权利要求1或2所述的cmos探测器调试系统实现，该方法的具体步骤如下：步骤一、上电后，依次检测vdd18d、vdd18ad和vdd5a的ldo电流值；控制器向探测器发送系统复位信号sys_rst_n并回读spi寄存器的值；对探测器的spi寄存器读写操作数据值的判断以及检测探测器输出串行图像数据中的伴随时钟，实现探测器各管脚间的连接间的连通，无异常后，执行步骤二；步骤二、控制器向探测器输出驱动控制信号，经电平转换电路后送入探测器；步骤三、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路开始供电输出，然后检测电荷转移栅低压供电、像素和基准源供电的估算电流ievaluate_1；若在上电阶段ldo输出端的电容均充电完毕后，检测到的电流小于等于2倍估算电流ievaluate_1，则执行步骤四，否则检查电流偏大的供电电路并进行异常处理。步骤四、源级跟随器供电、电荷转移栅高压供电开始供电输出，然后检测电荷转移栅高压供电、源级跟随器供电电路的估算电流ievaluate_2；若在上电稳定ldo输出端的电容均充电完毕后，检测到的电流小于等于2倍估算电流ievaluate_2，则执行步骤五，否则检查电流偏大的供电电路并进行相应处理。步骤五、控制器接收探测器输出的串行图像数据，进行串行图像数据的训练；当检测到的稳定tap数小于工作频率所决定的tap数的一半，或者出现训练后的图像模糊，则检查探测器的串行图像数据管脚是否存在接触不良；处理完毕或者无异常现象则执行步骤六；串行图像数据的频率、iodelay的参考时钟频率及iodelay的最大tap数估算检测到的稳定区域所对应的最大tap数；步骤六、输出探测器的感光图像；通过改变入射光能量，看输出是否跟随变化，若不跟随变化感光性差，则检查驱动控制信号的相关管脚。4.根据权利要求3所述的cmos探测器的检测方法，其特征在于：在步骤一之前，还包括在探测器上电前，控制器向探测器提供低抖动的差分时钟。5.根据权利要求3所述的cmos探测器的检测方法，其特征在于：步骤一的具体过程为：步骤一一、上电后，vdd18d、vdd18ad和vdd5a的ldo开始供电输出，然后检测vdd18d、vdd18ad和vdd5a的ldo电流值ievaluate；若在上电稳定后，ldo输出端的电容均充电完毕，检测到的电流小于等于2倍电流值ievaluate，执行步骤一二；否则检查电流偏大的ldo供电电路并进行异常处理，异常处理后则进行步骤一二；步骤一二、控制器向探测器发送系统复位信号sys_rst_n，经电平转换电路后送入探测器；然后在探测器内部复位结束后，回读探测器的spi寄存器值，确认所述spi寄存器的值是否均为0；若均为0，则执行步骤一三；否则，检查探测器的系统复位sys_rst_n管脚、spi读写操作管脚与电平转换电路的连通性；异常处理后则进行步骤一三；步骤一三、进行探测器的spi寄存器写操作，在写操作完毕后进行寄存器的读操作，比较读写操作的数据值是否相同；若回读的数据和写入的数据不相同且回读的数据恒定为0，则检查探测器的系统复位sys_rst_n管脚是否为恒定的低电平；若回读的数据和写入的数据不相同且回读的数据不恒定为0，则检查spi读写操作管脚与电平转换电路的连通性；异常处理后则执行步骤一四；步骤一四、检测探测器输出串行图像数据中的伴随时钟，判断伴随时钟的频率是否为控制器向探测器提供低抖动的差分时钟频率的一半，若是，执行步骤二；若不是，则检测探测器的差分时钟管脚是否存在接触不良或者探测器的伴随时钟管脚是否存在接触不良，对接触不良的部分进行处理后执行步骤二。 技术总结CMOS探测器的调试系统及检测方法，涉及CMOS探测器筛选测试领域，解决现有CMOS探测器上电过程中，易出现烧毁芯片、SPI写操作错误以及图像模糊等问题，包括VDD18D、VDD18AD和VDD5A的LDO供电及电流检测电路、电荷转移栅低压供电及电流检测电路、像素和基准源供电及电流检测电路、源级跟随器供电及电流检测电路、电荷转移栅高压供电及电流检测电路和电平转换电路；本发明对探测器的供电电源进行了限流设置，设置了最大输出电流，同时根据CMOS探测器上电过程中可能出现的各种异常现象对探测器的状态进行诊断，并进行相应处理，避免由于错误状态而把所有的供电全加上而出现异常大电流。电流。电流。 技术研发人员：余达 李国宁 梅贵 李强 齐彪 王爽 安威受保护的技术使用者：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所技术研发日：2022.09.14技术公布日：2022/12/16
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