Nano Measurer可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析，能够对粒径分布计算的数据导出和处理，界面简洁，易上手，有需求的朋友请下载使用！

今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒，所用的软件是Nano Measurer和Origin ，并附软件安装及使用教程。

软件介绍：Nano Measurer适用系统：WinXP/Win7/Win10开发者：复旦大学化学系 表面化学与催化实验室 许杰（现任职于常州大学）

邮箱：[email protected]、[email protected]

Nano measurer在操作方面，比Image J、DigitalMicrograph（DM）要简单很多。相比很多同学手动测量粒径（使用DM，一个一个测量，一个一个记录画“正”字）这个程序有以下几个优点：（1）自动记保存每个粒径，即时查看；（2）对于每个测量过的粒子，都加以标示，防止重复测量，且可删除误测量的粒子；（3）电镜图片的放大和缩小[0.25-3.0倍率]；（4）自动绘制统计分布图，粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出；（5）汉/英程序界面；（6）程序简单，免费。

1 . 解压安装包，运行Nano Measurer

运行Nano Measurer 1.2软件，打开需要统计的SEM图片（Jpg格式），首先设置标尺，如图

注意：软件只支持*.bmp和*.jpg格式图片，对于TEM文件(一般是*.dm3)，请用软件打开，然后在电镜图片上鼠标右键，复制图片，再使用Windows自带的软件新建一个空白的画板，粘贴图片，最后作适当裁剪(除去空白的边幅)。

在对颗粒进行标记统计，至少需要10个数据及以上，详细步骤：

1. 打开电镜文件，在电镜图片上按住鼠标左键不放，拖动鼠标，由此确定标尺；单击菜单"设置"->"标尺"，在窗口中输入标尺真实长度和单位；

2. 拖动鼠标在电镜上标示颗粒，每标示一个颗粒，程序会记录其序号和粒径，结果会在"即时报告"窗口中显示；

3. 对于效果不理想的颗粒，可将鼠标放在电镜图片的颗粒序号上，单击鼠标右键删除，或在"即时记录"窗口中选择某个颗粒序号，单击鼠标右键删除；

4. 测量粒径中，可以点击菜单"设置"->"标记"，选择颗粒序号在标记线的合适位置和颜色；

5. 当被测量的颗粒总数达到10个，可以单击菜单"报告"->"查看报告"；

6. 测量颗粒中，可随时在电镜图片的空白区域内，单击鼠标右键,选择菜单放大缩小电镜图片(最大放大3倍,最小缩小0.25倍)；

7. 本程序缺省设定样本组数为10，在组分布时,样本的组范围确定采用上偏，即2.5落在2.5-3.0内而非2.0-2.5内。

然后点击报告，将数据生成txt文件，保存在桌面以方便查找。

（1）将导出文件的“统计报告”部分直接拷贝到Origin表格中(4列)；

（2）设表格第2列为X轴，第4列为Y轴，然后作图。

（1）复制导出文件的"基本报告"部分至Origin表格中；

（2）选择第2列右键鼠标运行"Frequency Count"命令。

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