对易团聚颗粒进行准确的特征（形态，成分等）分析，需要将团聚的颗粒分散制样。左图显示了将粉末样品直接分散到碳浆上和使用 Nebula™ 真空分散系统进行制样之间的区别。

样品中的颗粒均匀分散后，您可以开始使用 SEM 分析样品。ParticleMetric 软件是内部开发的，专为颗粒分析而设计。该软件包使用户能够对颗粒的直径、圆度和灰度等级等参数进行分析。用户可以对数据中的异常值执行EDS元素分析，以获得强有力的解决方案。

最近，一组研究人员（Kotronia等人., 在文献）研究了封装在β-环糊精中的牛至精油。使用 ParticleMetric，确定了颗粒的平均尺寸，验证了他们的实验方法。

另一个案例则使用了Nebula™ 真空分散系统对打印机墨粉颗粒进行分散，并使用 ParticleMetric 确定颗粒度用于美国专利申请的一部分。

从这些示例中可以看出，对于您在实验室或工业生产过程中可能遇到的问题，我们有许多电镜样品分析解决方案。如果您想下载 ParticleMetric&Nebula™ 手册，请点击这里。