ppm，不合格品率的百万分点表示，即每百万个产品中的不合格品数 单位/单元（unit）：过程加工过的对象，或传递给顾客的一个产品及一次服务 缺陷(defect)：产品（服务）没有满足顾客的需求或规格标准 缺陷对象：包含缺陷的单元 缺陷机会：单位产品上可能出现缺陷的位置或机会 DPU,defects per unit,单位产品缺陷率，反映了各种类型的缺陷在抽取的全体样本中所占的平均比率。 DPU=缺陷数/单位产品数 DPO,defects per opportunity,每次机会中出现缺陷的概率，表示每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例 DPO=缺陷数/(产品数×机会数) DPMO,defects per million opportunity,每百万机会缺陷数, DPMO=DPO×100,0000 RTY(rolled throughput yield),流通合格率，充分考虑过程中子过程的存在，若过程有n个子过程，而子过程的合格率分别为y1,y2,……yn,则： RTY = y1y2……*yn 当把这些东西想要和SPC的计量、计数数据结合的时候，俺是迷茫地： > 0.先描述一下数据源： 计量型的数据通常是这样的，我要测量一个尺寸长度，则得到一堆零件的数据：10.8,10.9,9.9,9.7....; 计数型的数据通常包括计件和计点两种： 计件的数据是（子组数，不合格品数）：(4000,8),(4000,14)……; 计点的数据是这样的（子组数，疵点数）（4000,7)，（4000,8)……; 1.PPM如何计算？ 计量型的数据：可以通过计算其均值和西格玛值，然后转化为标准正态分布求积分即可得到不合格率，然后得到PPM； 问题一：计件型的PPM可以计算吗？PPM=∑子组不合格数/∑子组数*1000000?这种算法正确吗？ 问题二：计点型数据可以计算PPM吗？按照定义貌似没有道理啊？ 2.DPMO的计算？ 问题三：计量型数据能够计算DPMO吗？或者DPMO＝PPM？ 问题四：计件的数据能够计算DPMO吗？或者计件型数据的DPMO有意义吗？DPMO=∑子组不合格数/∑子组数*1000000? 问题五：计点的数据怎么计算DPMO？DPMO=∑疵点数/∑子组数*1000000?总感觉一个子组的数据就可以计算出DPMO，这种算法对吗？ 3.RTY的计算 由RTY的定义，需要知道合格率y1、y2...yn等。 计量型的数据：通过计算数据均值和西格玛估计值，根据规范限USL和LSL转化为标准正态分布求积分即可得到合格率 计件型数据的合格率能够计算吗？事实上每一对（子组数，不合格品数）都能够计算一个不合格率，对于一组计件数据如何计算合格率?合格率＝1-∑不合格品数/∑子组数？ 计点型数据能够合格率吗？ 对于计件和计点如何计算其合格率从而计算RTY呢？ 另外就是使用计数型的方法时，一般时仅使用计件或仅使用计数，还是对一批样本会同时使用这两种方法呢？ 后来又搜索了论坛上几个关于PPM和DPMO的帖子，看得让俺有些愤怒了：为什么搞了这么多概念，难道是非得把人整晕了才是高超的质量理论吗？ > http://bbs.6sq.net/viewthread. ... BDPMO 举个例子：批量1000，每片有100个焊点，只有1片不良（且这1片上有两个焊点不良） 算PPM就=1/1000*1000000=1000 算DPMO就=2个焊点/（（100焊点/片+1）1000）1000000=2/101000*1000000=2000/101 这DPMO中的“1”指若这片板子100个焊点都是好的，可这片板子功能却不能通过，是一个机会不良数。 由上可知：通常DPMO要比DPPM小很多 6Sigma上所使用的就是DPMO，而非DPPM 所谓6Sigma=3.4，单位是DPMO 上面的DPPM是指每百万产品的缺陷率？对于只使用计量型的数据进行计算的质量特性由如何用DPMO来描述呢？ 对于那个+1仍然有些不明白为什么非得这么去做？ 最后颇有些无奈，还得整明白了才能用起来。于是把相关算法和问题整理如上，还望各位同仁援手不吝赐教啊，先行谢过！