大仪实验中心TCS SP8 STED 3X超高分辨激光共聚焦显微镜配置了405nm激光器、多线氩离子激光器（458/476/488/496/514nm）、白激光（470-670nm任意可调），可实现紫外、可见到近红外波长范围内的常规共聚焦显微成像，同时搭配有两台PMT检测器和两台超灵敏HyD检测器，可轻松去除反射光和杂散光干扰，也可以搭配单分子探测（SMD）系统实现荧光寿命成像（FLIM）和荧光相关光谱（FCS）检测。应用受激发射损耗（STED）技术，该设备能实现50 nm以下的分辨率，可进行单色、双色及三色荧光标记固定细胞或活细胞的STED超高分辨成像。为了更好的服务于各相关科研团队，中心拟定于3月25-26日开展超高分辨激光共聚焦显微镜高阶应用培训，本次培训包括理论培训和上机培训两部分。本次培训同时安排图像分析统计软件AIVIA使用体验，现收集典型数据处理案例，欢迎有图像分析统计需求的师生参与交流，如有需要请与中心工程师联系（郝英18092117169）。培训时间：2024年3月25-26日培训地点：18号楼副楼5002会议室主讲人：郝 英   分析测试中心工程师             王文静   徕卡应用专员             殷艺璇   徕卡应用专员日程安排3月25日时间内容报告人9:30-10:10白激光共聚焦高阶应用--FLIM、FRET、FRAP及全光谱扫描成像王文静10:10-10:50AIVIA人工智能助力图像数据分析殷艺璇10:50-11:00休息11:00-11:30STED技术原理、发展及应用王文静11:30-12:00分析测试中心超高分辨激光共聚焦显微镜预约使用及培训注意事项郝英14:30-15:30AIVIA操作体验分组114:30-15:30白激光高阶应用培训（激发光谱扫描、FRAP、FRET等）分组215:30-16:30白激光高阶应用培训（激发光谱扫描、FRAP、FRET等）分组115:30-16:30AIVIA操作体验分组23月26日9:30-10:30STED上机培训分组19:30-10:30AIVIA现场数据处理分组210:30-11:30AIVIA现场数据处理分组110:30-11:30STED上机培训分组2报名须知：1.为保证培训质量，共聚焦显微镜上机培训会分批按需进行，每次上机培训人数不超过5人，以先后报名顺序进行排序，参加并完成理论培训及考核的相关人员，才可进入下一阶段培训，参加完全部培训考核之后，方可申请中心成为自主操作用户，享受相应权利。2.本次报名需二维码报名并现场签到，培训前已经提交电子版和纸质版培训报名表的同学，请按要求扫码报名后准时参加理论培训。3.请需要参加上机培训的师生在报名时，按需勾选培训内容，以便后期合理安排培训批次。4.本设备上机培训暂时仅针对校内师生开放，校外师生可联系设备管理员咨询相关事宜。报名方式：访问链接：http://iacxjtu7.mikecrm.com/wLkUEz7或扫描二维码：联系人：郝英18092117169 刘若媛15929995451邮箱：[email protected]大仪实验中心二零二四年三月十九日