DFT Compiler提供了 preview_dft 命令，可以对DFT设计进行预览。preview_dft 和 insert_dft 所用的算法是相同的，只是 preview_dft 命令是把将要实现的DFT结构报告出来而不是真正要去实现它。因此 preview_dft 命令允许用户不进行逻辑综合就能对scan chain等信息进行预览，并且根据需求再调整DFT设计。

在执行 preview_dft 命令前，必须要有一个有效的测试协议，可以使用 creat_test_protocol 命令创建一个或者使用 read_test_protocol 命令读入一个；除此之外，还必须要跑过pre-DFT DRC，如果在执行 preview_dft 命令前没有执行 dft_drc ，工具则会隐式地帮你执行。

十分建议大家在执行 insert_dft 命令前使用 preview_dft 命令生成一份DFT preview report，先对自己的DFT设计有个大概的了解。

那么DFT preview report具体长什么样子呢？

下图是一份最简单的报告，从报告中我们可以看到scan chain的一些基本信息，例如：scan chain的数目、scan chain的输入和输出port、每条scan chain所包含的scan cell的个数等等，还可以看到scan的methodology、style以及是否使能mix_clock等配置信息。

除此之外，我们还可以在 preview_dft 命令后面使用-show选项来报告出更多的关于scan chain的信息。

命令的格式为：preview_dft -show {...} 通过在大括号内填一些关键字，可以将相应的内容展现在报告中。下面介绍一些常用的关键字以及相对应的报告示例。

cells - 报告出每条scan chain上所有的scan cell。

scan_clocks - 报告出每条scan chain所属的scan clock domain。

scan_signal - 报告出每条scan chain相关的DFT信号和hookup pin。

voltages - 报告出每条scan chain所属的工作电压。

power_domains - 报告出每条scan chain所属的power domain。

scan_summary - 对scan chain的信息列出一个简单的总结。

all - 报告出上述所有关键字（除去关键字scan_summary外）所包含的信息。

如果在design中有多个测试模式，DFT逻辑会使用test_mode信号来选择测试模式，在有多个测试模式的情况下，preview_dft 命令会报告出每一个测试模式下的scan chain的信息，还会报告出test_mode信号及其编码方式。

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