U盘、SSD、各种存储卡等都是采用Flash半导体芯片作为存储介质的，目前大部分的半导体存储设备都是采用MLC Flash芯片，相对来说更容易出现坏块，引起读写错误，从而导致重要数据损坏或设备工作不正常。h2testw是德国人写的一个windows下免费的Flash坏块检测软件，可以检测目前所有的半导体存储设备的坏块情况，该软件通过向选择的目录内写入自行产生的单个最大1G的文件然后读出校验的方式确定坏块，准确性不容怀疑；同时，该软件还能测试存储设备的实际读写速度，与ATTO DISKBENCH和HD TACH不同，h2testw测试的是存储设备的实际读写速度，本文就详细解释一下h2testw的使用方法。

打开h2testw，界面如下：

由于程序是德国人写的，默认的界面语言是德语，不熟悉德语的朋友（应该是大多数）请选择英语界面，如上图。

然后请点击Select target按钮选择测试数据写入的目录：

你可以选择将待测数据写入待测存储设备的任意目录，h2testw会向待测盘写入单个最大1G的测试文件，如果剩余空间不够1G，它会自动写入一个小于1G的文件，直到写满整个盘为止。由于测试不会破坏原来的数据，如果你的盘上已经有其它数据，h2testw会弹出提示，告诉你只能测试整个盘的多大空间：

同时测试结果窗口也会显示存储设备测试分区的全部容量和可测试容量：

当然如果我们只测试一部分的话，就不准了，所以建议删除原盘上的全部数据（重新格式化一次最好），然后选择将待测数据写入根目录比较好：

选择完成，按确定后，回到主界面：

如果盘上没有被写入过测试数据（第一次测试的话，出现上图的界面），选择all available space会测试整个剩余空间，在下面的only 和MByte间输入数据的话，就只测试你规定的容量。由于是第一次测试，所以h2test会自动生成并写入测试文件，所以只有Write + Verify按钮可以点击，钩选后面的endless verify的话，会进行循环校验。

如果所选目录曾写入过测试数据的话，会出现这样的界面：

由于有测试数据，所以只需要校验就可以了，当然你可以在我的电脑里删除已有的测试数据以便重新写入。

点击Write + Verify按钮后进入测试界面：

测试的前半部分是写入测试文件并测试数据写入速度，由于写入的是单个最大1G的文件，所以测试的是连续的数据写入速度，后半部分就读出先前写入的数据并进行校验，同时计算数据读出速度直至结束：

结束后在测试窗口里会显示测试的结果，如果测试又坏块的话，会随着测试同步显示，同时测试窗口的背景会变成浅红色，以提示测试出坏块：

上面的测试显示总共有172576个扇区的数据出现错误。

由于h2testw能测试全部的数据存储扇区，所以测试结果准确、全面，同时该软件能测试存储设备实际的读写速度，所以能给我们的使用提供准确的参考。更难能可贵的是，该工具支持win7操作系统。诸如ChipGenius芯片精灵、MyDiskTest（U盘扩容检测、坏块扫描、老化测试、速度测试、坏块屏蔽）都不能很好的在win7下工作。

测试结束,没有找到错误.. 现在你可以删除测试文件 *.h2w 或重新校验. 写入速度: 10.6 MByte/s 读取速度: 16.2 MByte/s H2testw v1.4

以上是我的金士顿DataTraveler 101 Generation 2 (G2) 8GB U盘(DT101G2/8GB)优盘的测试数据。确实比ATTO DISKBENCH工具测试所得的数据准确得多。

汉化绿色版下载地址：http://www.downg.com/soft/1217.html