DDR、DDR2、DDR3 和 DDR4 设计与测试解决方案 |
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DDR 设计可分为四个方面：仿真、互连设计、有源信号验证和功能测试。虽然 JEDEC 定义了规范，但您需要验证一致性。如果您没有正式的验证实验室或测试中心，那么您必须自行选择适合的程序、方法和设备来执行这些一致性测试。是德科技提供了用于电气物理层、协议层和功能测试的解决方案。 使用下表寻找能够满足您的 DDR 和存储器需求的特定解决方案。 返回 DDR 设计和测试主页 仿真 物理层 功能验证 探测解决方案 DDR 设计和测试解决方案基础平台W2211BP ADS 电子设计自动化
有源信号验证和一致性测试：Infiniium V 系列示波器 接收机一致性（LPDDR4）测试：M8020 J-BERT 互连设计： 86100D Infiniium DCA-X 主机和 54754A 差分和单端 TDR/TDT 模块 E5071C-TDR 增强时域分析U4164A 逻辑分析仪模塊，具高达 4 Gb/s 状态模式和 10 GHz 时序模式等選件 U4154B 4 Gb/s AXIe 逻辑分析仪模块 提供标准和定制探测解决方案 如果标准解决方案无法满足您的需求，请 联系 是德科技 DDR4 W2351EP ADS DDR4 一致性测试台软件 N6462A DDR4 电气一致性测试应用软件B4661A 儲存器分析軟件，适用于逻辑分析仪 B4621B 用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 调试和验证的总线解码器 B4622B 用于 DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的协议一致性测试和分析工具箱 W4641A DDR4 x16 2-wing BGA 内插器，适用于逻辑分析仪，連接至 61-pin ZIF W4643A DDR4 x4/x8 BGA 内插器，适用于逻辑分析仪，連接至 61-pin ZIF W4633A DDR4 x4/x8 BGA 内插器 W4631A DDR4 x16 BGA 内插器 N2114A DDR4 BGA 内插器（DRAM x4/x8） N2115A DDR4 BGA 内插器（DRAM x16） DDR3 W2302EP 瞬态卷积元件 U7231B DDR3 和 LPDDR3 一致性测试应用软件B4661A 儲存器分析軟件，适用于逻辑分析仪 B4621B 用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 调试和验证的总线解码器 B4622B 用于 DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的协议一致性测试和分析工具箱 W2635A 以及 W2636A x8 和 x16 DDR3 BGA 探头适配器 W3635B DDR3 BGA 示波器探头适配板 W3631A DDR3 x16 BGA 命令和数据探头 W3633A DDR3 x4/x8 BGA 命令和数据探头 DDR2 W2302EP 瞬态卷积元件 N5413B DDR2 和 LPDDR2 电气一致性测试应用软件B4621B用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 调试和验证的总线解码器 B4622B用于 DDR2/3/4 和 LPDDR2/3 的协议一致性测试和分析工具箱 W2631B DDR2 x16 BGA 命令和数据探头 W2632A DDR2 X16 BGA 数据探头 W2633B DDR2 x8 BGA 命令和数据探头 W2634A DDR2 X8 BGA 数据探头 W2639A DDR2 BDA 探头示波器适配板 DDR U7233A DDR1 电气一致性测试应用软件B4621B 用于 DDR、DDR2、DDR3、DDR4 调试和验证的总线解码器 B4622B协议一致性测试和分析工具箱 GDDR5 U7245A GDDR5 一致性测试应用软件 |
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